CH-1-ST臺(tái)式薄膜測(cè)厚儀主要特點(diǎn):
1、采用高精密機(jī)械千表,測(cè)量精度高,穩(wěn)定性和重復(fù)性好;
2、內(nèi)部采用齒輪裝配傳動(dòng),可測(cè)量0-1000微米范圍薄膜厚度;
3、上測(cè)頭采用曲面測(cè)量頭,符合國(guó)標(biāo)GB/T6672-2001要求,測(cè)力小,符合0.1-0.5N范圍;
4、測(cè)頭經(jīng)精密研磨,不容易生銹,機(jī)架穩(wěn)定不容易變形,時(shí)效性好
5、測(cè)厚儀輕便小巧,可隨身攜帶,適用于實(shí)驗(yàn)室或現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè);